光學(xué)車(chē)間檢測(cè)原書(shū)第3版國(guó)際機(jī)械工程先進(jìn)技術(shù)譯叢

光學(xué)車(chē)間檢測(cè)（原書(shū)第3 版）（國(guó)際機(jī)械工程先進(jìn)技術(shù)譯叢）作 者：（墨） 馬拉卡拉主編，楊力等譯出 版 社：機(jī)械工業(yè)出版社出版時(shí)間： 2012-6-1版 次： 1 頁(yè) 數(shù)： 630 字 數(shù)： 1026000印刷時(shí)間： 2012-6-1開(kāi) 本： 16 開(kāi)紙張：膠版紙印 次： 1I S B N ： 9787111373766 包 裝：平裝內(nèi)容推薦光學(xué)車(chē)間檢測(cè)( 原書(shū)第 3 版 )/ 國(guó)際機(jī)械工程先進(jìn)技術(shù)譯叢編著者馬拉卡拉。本書(shū)原著是光學(xué)檢測(cè)領(lǐng)域的權(quán)威著作之一，從第 1 版到第 3 版的再版歷時(shí)三十年時(shí)間，第一版都深受光學(xué)檢測(cè)領(lǐng)域讀者的歡迎。本書(shū)（原書(shū)第 3 版）詳細(xì)介紹了光學(xué)檢測(cè)領(lǐng)域的各種儀器、方法和技術(shù)手段，以及三十年來(lái)光學(xué)檢測(cè)領(lǐng)域的最新重要進(jìn)展。本書(shū)共分 18 章，主要內(nèi)容包括：牛頓干涉儀，菲佐干涉儀，海丁格干涉儀，泰曼一格林干涉儀，共光路干涉儀，橫向剪切干涉儀，徑向、旋轉(zhuǎn)和反轉(zhuǎn)剪切干涉儀，多光束干涉儀和多通道干涉儀的技術(shù)原理和使用方法；介紹了傅科刀口法、細(xì)絲法和調(diào)相法，朗奇檢驗(yàn)法，哈特曼光闌檢驗(yàn)、哈特曼一夏克光闌檢驗(yàn)及其他光闌檢驗(yàn)，星點(diǎn)檢驗(yàn)法，非球面波前和鏡面的檢驗(yàn)，澤尼克多項(xiàng)式與波前擬合，相移干涉測(cè)量，表面輪廓儀，多波長(zhǎng)及白光干涉測(cè)量，散射表面光學(xué)檢測(cè)，角度、棱鏡、曲率半徑和焦距的測(cè)量，光學(xué)面及其特性的數(shù)學(xué)描述等光學(xué)檢測(cè)的主要技術(shù)手段和分析方法。本書(shū)可供從事光學(xué)檢驗(yàn)、檢測(cè)、測(cè)試、計(jì)量與研究、設(shè)計(jì)與制造工作的廣大科技人員參考，也可作為教材供相關(guān)專(zhuān)業(yè)學(xué)生及教師使用。目錄叢序言第 3 版譯者的話(huà)第3版序第 1 章牛頓干涉儀、菲佐干涉儀和海丁格干涉儀1.1 引言1.2 牛頓干涉儀1.3 菲佐干涉儀1.4 海丁格干涉儀第 2 章泰曼格林干涉儀2.1 引言2.2 分光鏡2.3 相干性要求2.4 泰曼格林干涉儀的應(yīng)用2.5 干涉儀內(nèi)部畸變的補(bǔ)償2.6 非等程干涉儀2.7 開(kāi)放光路干涉儀2.8 泰曼格林光路結(jié)構(gòu)的變形2.9 泰曼格林干涉圖及其分析第 3 章共光路干涉儀3.1 引言3.2 使用兩塊匹配散射板的伯奇干涉儀3.3 雙折射分光鏡3.4 橫向剪切干涉儀3.5 雙焦干涉儀3.6 桑德斯棱鏡干涉儀3.7 點(diǎn)衍射干涉儀3.8 采用共光路干涉儀的澤尼克檢測(cè)第 4 章橫向剪切干涉儀4.1 引言4.2 光源的相干性4.3 橫向剪切干涉計(jì)量的理論簡(jiǎn)介4.4 未知波前的估計(jì)4.5 平行光橫向剪切干涉儀（白光補(bǔ)償）4.6 會(huì)聚光橫向剪切干涉儀（白光補(bǔ)償）4.7 使用激光的橫向剪切干涉儀4.8 其他類(lèi)型的橫向剪切干涉儀4.9 矢量剪切干涉儀第 5 章徑向、旋轉(zhuǎn)和反轉(zhuǎn)剪切干涉儀5.1 引言5.2 徑向剪切干涉儀5.3 旋轉(zhuǎn)剪切干涉儀5.4 反轉(zhuǎn)剪切干涉儀第 6 章多光束干涉儀6.1 發(fā)展簡(jiǎn)史6.2 多光束干涉計(jì)量技術(shù)的精度6.3 多光束菲佐干涉儀6.4 等色序條紋6.5 多光束干涉測(cè)量中如何減少干涉條紋的間隔6.6 平行平面法布里珀羅干涉儀6.7 用法布里 ?珀羅干涉儀產(chǎn)生的托蘭斯基干涉條紋6.8 檢驗(yàn)曲面用的多光束干涉儀6.9 耦合干涉儀和串聯(lián)干涉儀6.10 全息多光束干涉儀6.11 法布里 ?珀羅干涉條紋近代的發(fā)展和應(yīng)用6.12 結(jié)束語(yǔ)第 7 章多通道干涉儀 7.1 雙通道干涉儀7.2 多通道干涉儀第 8 章傅科刀口法、細(xì)絲法及調(diào)相法8.1 引言8.2 傅科檢驗(yàn)法和刀口檢驗(yàn)法8.3 細(xì)絲檢驗(yàn)法8.4 普拉茲克 ?蓋維俄拉檢驗(yàn)法8.5 調(diào)相檢驗(yàn)法8.6 朗奇 ?康芒檢驗(yàn)法8.7 結(jié)束語(yǔ)第 9 章朗奇（ Ronchi ）檢驗(yàn)法9.1 引言9.2 幾何原理9.3 波面形狀的測(cè)定9.4 物理原理9.5 朗奇檢驗(yàn)法的實(shí)際應(yīng)用9.6 其他幾種相關(guān)的檢驗(yàn)9.7 結(jié)束語(yǔ)第 10 章哈特曼光闌檢驗(yàn)、哈特曼 ?夏克光闌檢驗(yàn)及其他光闌檢驗(yàn)10.1 引言10.2 實(shí)例10.3 矩形光闌的哈特曼檢驗(yàn)10.4 波面恢復(fù)10.5 四孔光闌的哈特曼檢驗(yàn)10.6 眼鏡的哈特曼檢驗(yàn)10.7 采用非矩形光闌的哈特曼檢驗(yàn)10.8 哈特曼 ?夏克檢驗(yàn)10.9 交叉圓柱鏡測(cè)試10.10 光源陣列或者網(wǎng)格測(cè)試10.11 邁克耳遜 ?加德納 ?貝尼特檢驗(yàn)法10.12 其他進(jìn)展?fàn)顩r第 11 章星點(diǎn)檢驗(yàn)法11.1 引言11.2 小像差星點(diǎn)檢驗(yàn)11.3 小像差實(shí)測(cè)結(jié)果11.4 大像差星點(diǎn)檢驗(yàn)11.5 由測(cè)得的斜率和曲率恢復(fù)波前11.6 根據(jù)光強(qiáng)傳遞方程由兩幅離焦像求解波前11.7 根據(jù)傅里葉迭代變換由一幅離焦像求解波前11.8 根據(jù)菲涅耳變換迭代由兩幅或三幅離焦像求解波前第 12 章非球面波前和鏡面的檢驗(yàn)12.1 引言12.2 一些檢驗(yàn)非球面波前的方法12.3 在非零位檢測(cè)中干涉圖的成像12.4 一些零位檢測(cè)的光路12.5 凸雙曲面的檢測(cè)12.6 檢測(cè)圓柱面12.7 早期的補(bǔ)償器12.8 奧夫納補(bǔ)償器12.9 反射式補(bǔ)償器12.10 用于二次凹面的其他補(bǔ)償檢驗(yàn)法12.11 使用實(shí)全息圖的干涉儀12.12 應(yīng)用綜合全息圖的干涉儀12.13 利用雙波長(zhǎng)全息圖檢驗(yàn)非球面12.14 波前拼接第 13 章澤尼克多項(xiàng)式與波前擬合13.1 簡(jiǎn)介13.2 具有圓形光瞳的旋轉(zhuǎn)對(duì)稱(chēng)系統(tǒng)的像差13.3 含圓形光瞳而不含旋轉(zhuǎn)對(duì)稱(chēng)軸的像差函數(shù)13.4 澤尼克環(huán)多項(xiàng)式作為環(huán)形光瞳系統(tǒng)的平衡像差13.5 利用離散波前誤差數(shù)據(jù)計(jì)算澤尼克系數(shù)13.6 總結(jié)第 14 章相移干涉測(cè)量14.1 導(dǎo)言14.2 基本原理14.3PSI 的優(yōu)勢(shì)14.4 相移的方法14.5 探測(cè)波前相位14.6 數(shù)據(jù)采集14.7PSI 算法14.8 相移校準(zhǔn)14.9 誤差源14.10 探測(cè)器和空間采樣14.11 品質(zhì)函數(shù)14.12 相位解包裹14.13 非球面及擴(kuò)展量程的PSI 技術(shù)14.14 其他分析方法14.15 計(jì)算機(jī)處理和輸出14.16 實(shí)現(xiàn)和應(yīng)用14.17PSI 技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì)第 15 章表面輪廓儀、多波長(zhǎng)及白光干涉測(cè)量15.1 表面輪廓儀介紹15.2 接觸式輪廓儀15.3 光學(xué)輪廓儀15.4 干涉光學(xué)輪廓儀15.5 雙波長(zhǎng)和多波長(zhǎng)技術(shù)15.6 白光干涉光學(xué)輪廓儀15.7 波長(zhǎng)掃描干涉儀15.8 光譜分辨白光干涉測(cè)量15.9 偏振干涉測(cè)量15.10 光學(xué)測(cè)距方法15.11 總結(jié)第 16 章散射表面光學(xué)檢測(cè)16.1 莫爾條紋與條紋投影技術(shù)16.2 全息與散斑測(cè)試第 17 章角度、棱鏡、曲率半徑和焦距的測(cè)量17.1 引言17.2 角度測(cè)量17.3 棱鏡的測(cè)量17.4 曲率半徑的測(cè)量17.5 焦距測(cè)量第 18 章光學(xué)面及其特性的數(shù)學(xué)描述18.1 光學(xué)面的定義18.2 由非球面產(chǎn)生的焦散面18.3 球面的初始像差18.4 像散面18.5 離軸二次曲面