應(yīng)用地球物理學習題答案.doc

.一、名詞解釋1地震勘探：是以不同巖石、礦石間的彈性差異為基礎(chǔ)，通過觀測和研究地震波在地下巖石中的傳播特性，以實現(xiàn)地質(zhì)勘查目標的一種研究方法。2震動圖：用t坐標系統(tǒng)表示的質(zhì)點振動位移隨時間變化的圖形稱為地震波的震動圖。3波剖面圖：某一時刻t質(zhì)點振動位移隨距離x變化的圖形稱之為波剖面圖。4時間場：時空函數(shù)所確定的時間t的空間分布稱為時間場。5等時面：在時間場中，如果將時間值相同的各點連接起來，在空間構(gòu)成一個面，在面中任意點地震波到達的時間相等，稱之為等時面。6橫波：彈性介質(zhì)在發(fā)生切變時所產(chǎn)生的波稱之為橫波，即剪切形變在介質(zhì)中傳播又稱之為剪切波或S波。7縱波：彈性介質(zhì)發(fā)生體積形變（即拉伸或壓縮形變）所產(chǎn)生的波稱為縱波，又稱壓縮波或P波。8頻譜分析：對任一非周期地震阻波進行傅氏變換求域的過程。9波前面：惠更斯原理也稱波前原理，假設(shè)在彈性介質(zhì)中，已知某時刻t1波前面上的各點，則可把這些點看做是新的震動源，從t1時刻開始產(chǎn)生子波向外傳播，經(jīng)過t時間后，這些子波波前所構(gòu)成的包攏面就是t1t時刻的新的波前面。10視速度：沿觀測方向，觀測點之間的距離和實際傳播時間的比值，稱之為視速度。V*11觀測系統(tǒng):在地震勘探現(xiàn)場采集中，為了壓制干擾波和確保對有效波進行追蹤，激發(fā)點和接收點之間的排列和各排列的位置都應(yīng)保持一定的相對關(guān)系，這種激發(fā)點和接收點之間以及排列和排列之間的位置關(guān)系，稱之為觀測系統(tǒng)。12水平疊加：又稱共反射點疊加或共中心點疊加，就是把不同激發(fā)點不同接收點上接收到的來自同一反射點的地震記錄進行疊加。13時距曲線：一種表示接收點距離和地震波走時的關(guān)系曲線，通常以接收點到激發(fā)點的距離為橫坐標，地震波到達該接收點的走時為縱坐標。14同向軸：在地震記錄上相同相位的連線。15波前擴散：已知在均勻介質(zhì)中，點震源的波前為求面，隨著傳播距離的增大，球面逐漸擴展，但是總能量保持不變，而使單位面積上的能量減少，震動的振幅將隨之減小，這稱之為球面擴散或波前擴散。二、判斷題1視速度小于等于真速度。2平均速度大于等于均方根速度。 3.僅在均勻介質(zhì)時，射線與波前面正交。4.縱波和橫波都是線性極化波。5.地震子波的延續(xù)時間長度同它的頻帶寬度成正比。6.傾斜界面情況下，折射波上傾方向接收時的視速度等于下傾方向的視速度。7.折射波時距曲線是通過原點的直線，視速度等于界面速度。12瑞雷面波是線性極化波。8.折射波的形成條件是地下存在波阻抗界面。9.對水平多層介質(zhì)，疊加速度是均方根速度。10.從各個方向的測線觀測到的時距曲線極小點位置，一般可以確定反射界面的大致傾向。11. 相遇觀測系統(tǒng)屬于折射波法的觀測系統(tǒng)12.將不能接收到折射波的區(qū)稱為盲區(qū)13反射界面越深，視速度越大，時距曲線越平緩。14同一巖土介質(zhì)中，縱波的吸收系數(shù)和橫波的吸收系數(shù)相等。15地震波在傳播中高頻成份損失較快，而存留了較低的頻率成分。16縱波傳播速度小于橫波傳播速度。17地震勘探中檢波器記錄的是波剖面。18 一般來說，同一巖土介質(zhì)中，縱波的吸收系數(shù)大于橫波的吸收系數(shù)。19物質(zhì)越致密，其泊松比越小。20繞射波時距曲線極小值位于繞射點正上方。三、簡答題1.用文字和圖示的形式分析震動圖和波剖面圖振動圖如下圖所示，假設(shè)在離震源距離為r1的A點觀測質(zhì)點振動位移隨時間的變化規(guī)律，用時間 t 為橫坐標，質(zhì)點位移u為縱坐標作圖，可得圖（b）所示的圖形。 該點地震波振動的位移大小稱之為振幅值變化、振動周期（T）延續(xù)時間(Dt)等特征。這種用坐標系統(tǒng)表示的質(zhì)點振動位移隨時間變化的圖形稱為地震波的振動圖。在實際地震記錄中，每一道記錄就是一個觀測點的地震波振動圖。波剖面圖 如下圖所示，假定在某一確定的時刻 t，在距離震源點O的一定范圍內(nèi)的各不同距離的點上，同時觀察它們的質(zhì)點振動的情況，并以觀測點與振源O的距離x為橫坐標，以質(zhì)點離開平衡位置的位移 u為縱坐標作圖所得圖形如下圖（b）所示從圖中可以看出質(zhì)點振動的波長l和該時刻的起振點 x2（波前）及停振點 x1（波尾）等特征。描述某一時刻 t 質(zhì)點振動位移u 隨距離 x 變化的圖形稱之為波剖面圖。2.什么是視速度？什么是真速度？它們之間有什么關(guān)系？沿波射線傳播的速度是真速度（2分），沿測線方向傳播的速度是視速度（2分）。視速度與真速度之間的關(guān)系稱視速度定理，其表達式為：，其中V*為視速度，V為真速度，是射線與地面法線間的夾角3.折射波法有哪些觀測系統(tǒng)？單支時距曲線觀測系統(tǒng)、相遇時距曲線觀測系統(tǒng)、多重相遇時距曲線觀測系統(tǒng)以及追逐時距曲線觀測系統(tǒng)。4.什么是多次覆蓋系統(tǒng)？每激發(fā)一次，激發(fā)點和整個排列怎樣向前移動？多次覆蓋觀測系統(tǒng)是根據(jù)水平疊加技術(shù)的的要求而設(shè)計的。水平疊加的概念：又稱共反射點疊加或共中心點疊加，就是把不同激發(fā)點、不同接收點上接收到的來自同一反射點的地震記錄進行疊加。這樣可以壓制多次波和各種隨機干擾波，從而大大提高了信噪比和地震剖面的質(zhì)量，并且可以提取速度等重要參數(shù)。選定偏移距和檢波距之后，每激發(fā)一次，激發(fā)點和整個排列都同時向前移動一個距離，直到測完全部剖面。5.影響地震波速度的主要因素有哪些？巖石的密度 孔隙度 壓力和溫度 埋藏深度和地質(zhì)年代 其它因素包括地質(zhì)構(gòu)造運動，巖層的風化侵蝕等。6.單層傾斜界面折射波時距曲線的特點是什么？（1）上傾與下傾方向時距曲線斜率不同，其視速度不同，上傾方向視速度大于下傾方向的視速度。（2）上傾與下傾方向觀測到的初至區(qū)距離和盲區(qū)大小不同，在下傾方向接收時，初至區(qū)距離和盲區(qū)較小，截距時間也要小些。 在上傾方向接收時，初至區(qū)距離和盲區(qū)要大些，截距時間也要大些。據(jù)此可以判斷界面的傾向。（3）當 i+j90 時若在下傾方向接收，折射波射線將無法返回地面，這時盲區(qū)無限大。而在上傾方向接收，則入射角總是小于臨界角，無法形成折射波。(4)上傾與下傾方向觀測的視速度分別為： （a ） i=j V* （b） i <j V*為負(5)若已知V1，則可根據(jù)相遇時距曲線的視速度求得傾角和臨界角以及V2（V2 = V1 /sin i）。7.水平界面反射波時距曲線的特點是什么？（1）直達波的時距曲線為反射波時距曲線的 漸近線；（2）若界面R同時是折射界面，在臨界點附近，反射波受到折射波的干擾；（3）V*的變化原因，在于反射波到達各觀測點的入射角不同；（4）反射界面越深，視速度越大，時距曲線越平緩。8.地震波在傳播過程中的衰減規(guī)律是什么？地震波由于受波前擴散和吸收衰減的影響，在介質(zhì)中傳播的振幅變化規(guī)律可用下式表示: 上式中a (f)為頻率的函數(shù). 除此以外，地震波在傳播過程中，當遇到不同巖層的分界面時，將產(chǎn)生波的透射、反射及波的轉(zhuǎn)換等，如果分界面不平整，還會產(chǎn)生波的散射（漫射），這些過程也會損耗地震波的能量，使波的振幅減.9.什么是大地濾波作用?地震波在傳播過程中隨著距離或深度的增加，高頻成分會被很快地損失掉，而且波的振幅按指數(shù)規(guī)律衰減。實際地層對波的這種改造，通常稱為大地低通濾波器效應(yīng)。10.寫出縱波、橫波、面波速度的大小關(guān)系？面波<橫波<縱波12.形成地震反射波和折射波的條件是什么？形成反射波的條件：界面上下有波阻抗差異；形成折射波的條件：界面下層速度大于上層速度，并且達到臨界角i13.如何確定反射波法的最大和最小炮檢距1. 最大炮檢距xmax 就是炮點與最遠一道之間的距離，一般最大炮檢距應(yīng)大致等于最深目的層的深度h，或 2. 最大炮檢距太大會帶來寬角反射的畸變影響； 3. 最小炮檢距xmin 是炮點與最近一道檢波器之間的距離,又稱偏移距； 4. xmin不應(yīng)小于最淺目的層的深度； 5. xmin大一些可以消除聲波和面波干擾。四、選擇題1振動圖是A（A）一個質(zhì)點在振動過程中，位移隨時間變化的曲線（B）一個質(zhì)點在振動過程中，位移隨空間變化的曲線（C）波傳播過程中某一時刻整個介質(zhì)中所有質(zhì)點振動隨空間變化的曲線（D）波傳播過程中某一時刻整個介質(zhì)中所有質(zhì)點振動隨時間變化的曲線2. 某時刻的波前是B（A）該時刻所有剛停止振動的質(zhì)點組成的曲面（B）該時刻所有剛開始振動的質(zhì)點組成的曲面（C）該時刻所有正在振動的質(zhì)點組成的曲面（D）以上說法都不對3. 關(guān)于泊松比，下列敘述不正確的是D（A）介質(zhì)的橫向應(yīng)變與縱向應(yīng)變的比值稱為泊松比（B）當增大時，對縱波的影響較大，對橫波的影響較?。–）已知介質(zhì)的泊松比，便可確定縱、橫波速度的比值（D）對于巖土介質(zhì)來說，越堅硬致密，泊松比越大4. 地震波的波長l 是（A）的乘積 A 波速與周期 B 波速與頻率 C 波數(shù)與波速 D 波數(shù)與周期5. 若為波射線與地面法線之間的夾角，則視速度V*與地震波傳播的真速度V的之間的關(guān)系為（A） （B）（C）（D）6.滑行波是（ ）A、以下層速度沿界面滑行的折射波B、以下層速度沿界面滑行的透射波C、以上層速度沿界面滑行的透射波6. 當遇斷層破碎帶時，地震波能量會變（） A 大 B 小 C 不變化 7. 關(guān)于橫波，下面敘述錯誤的是（A）介質(zhì)發(fā)生切變時產(chǎn)生的波動（B）當其在介質(zhì)中傳播時，會形成間隔出現(xiàn)的壓縮帶和稀疏帶（C）質(zhì)點的振動方向與波的傳播方向垂直（D）振動強度隨波傳播距離的增大而減小8. 水平疊加時間剖面上，相鄰共反射點疊加輸出道（CDP）的間隔是道間距X的（） A 1 B 1/2 C 1/39. 下面不屬于折射波法觀測系統(tǒng)的是（A）多次覆蓋觀測系統(tǒng)（B）相遇時距曲線觀測系統(tǒng) （C）追逐時距曲線觀測系統(tǒng)（D）多重相遇時距曲線觀測系統(tǒng) 10. 不考慮波前擴散和衰減，垂直入射時，反射系數(shù)與透射系數(shù)之和等于（ ） A 2 B 1 C 1/2 D 1/311. 反射介面和反射波時距曲線之間存在如下關(guān)系（A）反射界面越淺，視速度越小，時距曲線越平緩（B）反射界面越深，視速度越小，時距曲線越平緩（C）反射界面越淺，視速度越大，時距曲線越平緩（D）反射介面越深，視速度越大，時距曲線越平緩12. 當?shù)孛婧头瓷浣缑鏋槠矫鏁r， 共炮點反射波時距曲線極小點處的視速度為（） A 無窮大 B 真速度 C 零 D 界面速度 13.折射界面（ ）A、埋藏越淺，折射波的盲區(qū)越大B、埋藏越淺，折射波的盲區(qū)越小C、埋藏深度與盲區(qū)大小無關(guān)14.動校正的目的是（ ）A、將反射波時距曲線展成與地下界面一致的形狀B、消除多次波對時距曲線的干擾C、消除地形起伏，地表低速帶和炮點深度對時距曲線的干擾15. 波剖面是（A）一個質(zhì)點在振動過程中，位移隨時間變化的曲線（B）一個質(zhì)點在振動過程中，位移隨空間變化的曲線（C）波傳播某一時刻整個介質(zhì)中所有質(zhì)點振動隨空間變化的曲線（D）波傳播某一時刻整個介質(zhì)中所有質(zhì)點振動隨時間變化的曲線16. 關(guān)于淺層地震地質(zhì)條件，下列說法正確的是（A）松散覆蓋層較厚的地區(qū)容易激發(fā)出能量較強或頻率較高的有效波。（B）激震點位于潛水面以下激發(fā)時，所產(chǎn)生的地震波能量較弱（C）地震界面和地質(zhì)界面是一致的（D）地震標志層必須在較大范圍內(nèi)分布穩(wěn)定，且具有明顯的地震波運動17. 瑞利波面波、橫波和縱波速度的大小關(guān)系為（A）VRVSVP（B）VRVSVP（C）VRVSVP（D）VRVSVP18. 關(guān)于反射波時距曲線，下列說法不正確的是（A）反射波時距曲線方程為雙曲線（B）直達波時距曲線是反射波時距曲線的漸進線（C）反射界面越深，視速度越大（D）反射介面越淺，時距曲線越平緩19在盲區(qū)內(nèi)（ ） A 能同時接收到反射波和折射波 B 接收不到折射波C 接收不到反射波20當無穿透現(xiàn)象時，不同炮點激發(fā)的同一界面的追逐時距曲線（） A 相互平行 B 不相關(guān) C 斜交 五、計算題1. 已知水平兩層介質(zhì)，上下兩層波速度分別為V1=1000m/s，V2=3000m/s，界面深度為20m，求折射波盲區(qū)半徑R。折射波視速度等于V2 、折射波的盲區(qū)半徑=2htgi 2.已知上下兩層的速度V1=1000m/s，V2=2000m/s，截距時間t0=60ms，求炮點處折射界面的法線深度及盲區(qū)半徑r。3.設(shè)有一均勻地層，其速度值為1000m/s。一組平行的波射線以與地面法線成60的方向入射，求在地面觀測到的視速度為多少？，4. 已知地下深度為30m處有一水平速度分界面，上下兩層速度分別為V1=1000m/s，V2=3000m/s，求折射波時距曲線的截距時間t0。5. 一個以a =30出射的反射波的視周期T* =50ms,視波長l* =300m,試計算其視頻率f*和介質(zhì)中的波速度V6.請根據(jù)以下折射波相遇時距曲線和反射波時距曲線，判斷地下界面的形狀和傾向，并示意繪在圖的下方。7將下列圖中各界面的編號標在它們所對應(yīng)的折射波或反射波時距曲線上。ttxxV1V2V3V4V11V22V33V44OO三、電法勘探部分1名詞解釋電阻率是表征物質(zhì)導電性的基本參數(shù)，某種物質(zhì)的電阻率實際上就是當電流垂直通過由該物質(zhì)所組成的邊長為 1m 的立方體時而呈現(xiàn)的電阻。視電阻率，進行測量的地段地下巖石電性分布不均勻時，計算結(jié)果稱之為視電阻率，并用s表示。 電法勘探（人們常稱電法或電探）是勘探地球物理學中的一個分支，是電學、電磁學、電子學及電化學在解決地質(zhì)找礦及地質(zhì)學問題中發(fā)展起來的一門應(yīng)用科學?？v向電導，當電流平行巖柱體底面流過時，所測得的電導稱為縱向電導。用S來表示橫向電阻，當電流垂直巖柱體底面流過時，所測得的電阻稱為橫向電阻，用符號T來表示，單位為歐姆。積累電荷，在非均勻?qū)щ娊橘|(zhì)中，存在著電荷的體分布，這種電荷稱為積累電荷。積累電荷主要存在于電阻率不同的介質(zhì)分界面上。 電剖面法，電剖面法是用以研究地電斷面橫向電性變化的一類方法。電測深法， 電測深法是在地表某點測量電極不動，按規(guī)定不斷加大供電極距，從而研究地表某點下方電性的垂向變化。正交點，地電斷面，在電法勘探中，我們通常把按電性不同所劃分的地質(zhì)斷面稱為地電斷面。理想導體，電阻率為零的導體為理想導體，實際工作中當良導地質(zhì)體的電阻率遠小于圍巖電阻率時，良導地質(zhì)體可近似的看作理想導體。自然電場法，自然電場是一種直流電場，在一定的地質(zhì)地球物理條件下，地中存在的天然穩(wěn)定電流場稱為自然電場?；谘芯孔匀浑妶龅姆植家?guī)律來達到找礦或解決其它地質(zhì)問題的一種方法稱為自然電場法。激發(fā)極化效應(yīng)激發(fā)極化效應(yīng)：在充、放電的過程，由于電化學作用所引起的隨時間緩慢變化的附加電場的現(xiàn)象。2. 判斷題1潛水面切割導體是電子導體產(chǎn)生自然電場的必要條件。2電阻率法勘探只能探測導電性好的低阻體。（）3當電流由低阻介質(zhì)流向高阻介質(zhì)時，界面上積累負電荷，當電流由高阻介質(zhì)流入低阻介質(zhì)時，界面上積累正電荷。4理想導體充電電場的空間分布取決于充電點的位置，與導體的形狀、大小、產(chǎn)狀及埋深無關(guān)。7電阻率測深法的勘探深度隨供電極距的增大而減?。?）5一般說來，供電極距AB愈大，電法勘探深度也愈大。6中間梯度法適合于尋找陡傾的高阻巖脈（ ）7. 穩(wěn)定電流場中任一點的電流密度與該點場強成正比，與介質(zhì)的電阻率成反3、選擇題1關(guān)于穩(wěn)定電流場的基本規(guī)律，下面敘述錯誤的是（A）穩(wěn)定電流場中電流處處連續(xù)（B）穩(wěn)定電流場中電位處處有限且連續(xù)（C）穩(wěn)定電流場中任一點的電流密度與該點場強成反比，與介質(zhì)的電阻率成正比。（D）穩(wěn)定電流場中電荷的分布不隨時間而改變2聯(lián)合剖面法的電場屬于（A）一個點電源的電場（B）兩個異性點電源的電場（C）兩個同性點電源的電場（D）三個點電源的電場3. QHK 型曲線反映的地下幾層地電斷面（A）1層（B）2層（C）3層（D）5層4. 視電阻率是（A）某一電性層（或?qū)щ妿r、礦體）的電阻率（B）電場作用范圍內(nèi)地形及各電性層（或?qū)щ妿r、礦體）電阻率的綜合反映（C）電場作用范圍內(nèi)各電性層（或?qū)щ妿r、礦體）的平均電阻率（D）測量電極M、N中點正下方某一層的電阻率5. 視電阻率與下列哪些條件無關(guān)（ ）。 A 裝置的電極距 b 圍巖的電阻率 c 供電電流 D 礦體的電阻率1 簡答題（）簡述影響巖、礦石電阻率的主要因素及巖、礦石電阻值變化的一般規(guī)律。自然狀態(tài)下，巖土的電阻率除了和組份有關(guān)外，還和其它因素有關(guān)，如巖石的結(jié)構(gòu)、構(gòu)造、孔隙度及含水性等。由于主要的造巖礦物如長石、石英、云母等電阻率均相當高，因此，對于一般巖石來說，礦物骨架的電阻率是高的。一般巖石的電阻率要低于其所含礦物的電阻率。一般比較致密的巖石，孔隙度較小，所含水分也較少，因而電阻率較高；結(jié)構(gòu)比較疏松的巖石，孔隙度較大，所含水分也較多，因而電阻率較低。 （）穩(wěn)定電流場微分歐姆定律的表達及含義？穩(wěn)定電流場滿足歐姆定律，在微觀情況下，其微分形式是穩(wěn)定電流場中任一點的電流密度與該點場強成正比，與介質(zhì)的電阻率成反比。（3）裝置系數(shù)的含義，當AB=l00m,MN=10m時對稱四極裝置系數(shù)K值的大小。K為電極裝置系數(shù)k是一個只與電極的空間位置有關(guān)的物理量。（4）何謂電阻率和視電阻率？試說明其異同點。當?shù)叵掳肟臻g有低阻不均勻體存在時，由于正常電流線被低阻體所吸引，使地表MN處的實際電流密度減少，所以 jMN<j0，rs<rMN 。當?shù)叵掳肟臻g有高阻體存在時，用于正常電流線被高阻體所排斥，使地表MN處的實際電流密度增加，所以rs >rMN（5）決定和影響電阻率法勘探深度的因素是什么？勘探深度除了和極距有關(guān)外，還和地電斷面的性質(zhì)和結(jié)構(gòu)有關(guān)。能夠在地表產(chǎn)生可靠異常的最大深度，即為所用電極裝置及相應(yīng)極距的勘探深度。（6）何謂電剖面法？電剖面法中各種電極裝置形式的基本特征及相互間的關(guān)系怎樣？電剖面法是用以研究地電斷面橫向電性變化的一類方法。剖面法又分二極裝置、三極裝置、 聯(lián)合剖面裝置、對稱四極裝置、偶極裝置。二極裝置 這種裝置的特點是供電電極B和測量電 極N均置于無窮遠處接地三極裝置：只將供電電極B置于無窮遠，而將AMN沿測線排列進行逐點觀測。 三極裝置通常取MN的中點作為觀測結(jié)果的記錄點。對稱四極裝置：這種裝置特點是AM=NB，記錄點取在MN的中點。取AM=MN=NB=a時 ，這種對稱等距排列，成為溫納裝置，。聯(lián)合剖面裝置由兩個三極裝置聯(lián)合組成，其中電源負極置于無窮遠，電源的正極可向極，也可向極中間梯度法：此方法是裝置將供電電極A和B固定在相距很遠的地方，測量電極MN在AB中段的1/3的范圍內(nèi)逐點測量。 （7）什么是正交點和反交點？s曲線正、反交點的主要特征是什么？（8）電剖面法和電測深法的區(qū)別。 電測深法是在地表某點測量電極不動，按規(guī)定不斷加大供電極距，從而研究地表某點下方電性的垂向變化。由于供電極距不斷加大，增大了供電電流在地下的分布范圍，實際上相當于加大了勘探深度電剖面法是用以研究地電斷面橫向電性變化的一類方法。一般采用固定的電極距，并使電極裝置沿剖面移動，這樣便可觀測到在一定深度范圍內(nèi)視電阻率沿剖面的變化（9）視電阻率微分公式的表達及推導過程，并說明式中各量的含義。假設(shè)測量電極之間的距離為lsJMN*MN/JO (2分)，s：視電阻率（1分）； JMN ：MN間實際電流密度（1分）；MN：測量電極MN間實際電阻率（1分）； JO：地下為均勻介質(zhì)時，MN間的電流密度（1分）。（10）充電法的應(yīng)用條件是什么？1）被研究的對象（充電體）至少已有一處被揭露或出露，以便設(shè)置充電點；（2）充電體相對圍巖應(yīng)是良導電體；（3）充電體規(guī)模越大，埋藏越淺，應(yīng)用充電法的效果越理想。充電法的最大研究生度一般僅為充電體延伸長度一半。（11）聯(lián)合剖面裝置的剖面曲線和相同極距的對稱剖面曲線什么關(guān)系？用圖示和公式表達出來。（12）什么是理想導體？理想導體充電電場有什么特點？（13）中間梯度法主要用來解決什么樣的地質(zhì)問題？中間梯度法主要用來尋找陡傾的高阻體，如石英脈、偉晶巖脈等。（14）積累電荷的特點是什么？在非均勻?qū)щ娊橘|(zhì)中，存在著電荷的體分布，這種電荷稱為積累電荷。由于在電法勘探中，主要考慮分區(qū)均勻的電性分布情況，所以積累電荷主要存在于電阻率不同的介質(zhì)分界面上。在場中某點附近取一閉合曲面，若流入、流出該曲面的電流密度通量不等于零，便出現(xiàn)電荷的積累。積累電荷的大小除了和該點電流密度有關(guān)外，還和界面兩側(cè)電阻率的差異有關(guān)。 （15）充電法的可以解決哪些地質(zhì)問題？（1）確定已揭露（或出露）礦體隱伏部分的形狀、產(chǎn)狀、規(guī)模、平面分布位置及深度；（2）確定已知相鄰礦體之間的連接關(guān)系；（3）在已知礦體附近找盲礦體；（4）利用單井測定地下水的流向和流速；（5）研究滑坡及追蹤地下金屬管線等。（16）何謂等價原則?怎樣解釋H(或A)型曲線和K（或Q）型曲的S2等價和T2等價現(xiàn)象？在電測深法的實際工作中，由于觀測誤差的存在，經(jīng)常會遇到地電斷面參數(shù)不同而視電阻率曲線卻完全相同的現(xiàn)象，把這種情況稱為電測深曲線的等價現(xiàn)象。對于三層地電斷面，存在S2和T2等價現(xiàn)象。1.H型 （或A型）斷面的S2等價現(xiàn)象 當h1 、r1 、r3一定，而 n2較小的情況下，rs曲線中段極小值不明顯，只要保持中間層縱向電導S2不變，則rs電測深曲線的形狀也不變。對于A型三層斷面，同樣遵循S2等價原則。K型 （或Q型）斷面的T2等價現(xiàn)象當h1、r1、r3 一定，n2較小的情況下，rs曲線的極大值不明顯，只要保持中間層橫向電阻T2不變，則rs曲線的形狀也不變。對于Q型三層斷面，第二層中的電流也近似于垂直層面流動，同樣遵循T2等價原則3綜合題（1）用對稱四極剖面法測得某測的得UMN=10mV，I=40mA，已知供電電極AB=110m，測量電極MN=10m，試求該點視電阻率s值。k=*AM*AN/MN（2）AB=200米，MN/2=10米的對稱四極視電阻率測量中，測得供電電流為0.314A,電位差為20mV，求出視電阻率的大?。咳艄╇婋娏骷哟笠槐稌r，結(jié)果有無變化？為什么？若供電電流增大一倍，結(jié)果無變化，因為電流增大電位差也線性增大但其比值保持不變，所以結(jié)果不變。（3）作圖題繪出下列地質(zhì)剖面對應(yīng)的s測深曲線示意圖。lns（）飽和粘土粉質(zhì)粘土卵 石lnAB/2 根據(jù)地電斷面內(nèi)異常體的特征繪制聯(lián)合剖面曲線。1 12<12（4）繪出H、K、A、Q型對稱四極電測深曲線，并給出各類型地電斷面所對應(yīng)的層數(shù)及電性關(guān)系，并說明這四種曲線類型分別可能反應(yīng)哪種等價現(xiàn)象。（5）標出下列電阻率測深曲線的類型。ss（6）根據(jù)下列聯(lián)合剖面曲線判斷地質(zhì)體的傾向，并示意繪在曲線下方。1=100m h1=20m 2=300m h2=30m 3=220m（7）有如下地電斷面問題：（1）繪出對稱四極測深曲線。（2）確定曲線類型。（3）中間層橫向電阻T2 等于多少？（4）當h2 =25 m，2 =360m時，曲線有無變化？為什么？（5）若2=180m，h2=30m時曲線發(fā)生了怎樣的變化？三、重磁勘探1. 1名詞解釋重力勘探以地殼中不同巖、礦石間之密度差異為基礎(chǔ)，通過觀測與研究天然重力場的變化規(guī)律以查明地質(zhì)構(gòu)造和尋找礦產(chǎn)的一種物探方法重力異常在重力勘探中，將由于地下巖石、礦物密度分布不均勻所引起的重力變化稱為重力異常。緯度改正地球表面的重力值隨緯度（j）而變化，為了消除由于測點所在的緯度不同而引起的重力變化，必須進行緯度改正，地形改正即把測點平面以上的物質(zhì)除去，并把測點平面以下的空缺填補起來，這項工作叫地形改正，中間層改正，由于測點與基點之間還存在一定的高差，故測點到基準面 （基點所在的水平面）之間的物質(zhì)對實測重力值亦會產(chǎn)生影響。消除這種影響的工作稱為中間層改正。布格改正，高度改正和中間層改正都和測點相對于總基點的高程有關(guān)，因此在重力測量的改正中，常常把兩項改正合并到一起，稱為布格改正布格重力異常，經(jīng)布格改正后的重力異常磁法勘探， 磁法勘探是利用地殼內(nèi)各種巖（礦）石間的磁性差異所引起的磁場變化（磁異常）來尋找有用礦產(chǎn)資源和查明地下地質(zhì)構(gòu)造的一種物探方法。地磁要素，地磁場強度一般用T來表示，它在X、y、Z三個軸上的投影分別為：北分量X，東分量Y，垂直分量Z。T在 xoy平面上的投影稱為水平分量 H，其方向指向磁北。上述x、y、z、H、T、D、I各量統(tǒng)稱為地磁要素剩余密度，磁化強度磁化強度M表示單位體積所具有的磁矩2簡答題（1）重力勘探的應(yīng)用條件1）重力異常的產(chǎn)生首先必須有密度不均勻體存在。（2）僅僅有密度差也不一定能產(chǎn)生重力異常，還必須沿水平方向上有密度變化才行。（3）利用重力測量研究地質(zhì)構(gòu)造問題時，要求上部巖層與下部巖層有足夠大的密度差，且?guī)r層有明顯的傾角，或斷層有較大的落差。（2）磁化強度、感應(yīng)磁化強度、剩余磁化強度的概念是什么？他們之間有什么關(guān)系？磁化強度表示單位體積所具有的磁矩，用M表示。（1分）感應(yīng)磁化強度表示各種巖石在現(xiàn)代地磁場的磁化下所具有的磁性，用Mi表示（2分）。剩余磁化強度表示各種巖石在地質(zhì)歷史條件下被古地磁場磁化所保留下來的磁性，基本上不受現(xiàn)代磁場的影響而保持著其固有的數(shù)值和方向，用Mr表示（2分）。三者之間的關(guān)系：巖石的磁化強度由感應(yīng)磁化強度和剩余磁化強度兩部分構(gòu)成，即M=Mi+Mr（1分）（3） 什么是重力異常？什么是布格重力異常？3綜合題（1）畫出下列各種情況下的g曲線根據(jù)圖示，在下列剖面上畫出磁異常Za曲線。（2）關(guān)于布格校正，請回答以下問題：中間層校正與高度校正的物理含義是什么? 通過地形改正以后，測點周圍就變成水平面了。但由于測點與基點之間還存在一定的高差，故測點到基準面 （基點所在的水平面）之間的物質(zhì)對實測重力值亦會產(chǎn)生影響。消除這種影響的工作稱為中間層改正。 經(jīng)過地形和中間層改正后，測點就懸在它所在的空間了。再經(jīng)過高度改正，就可以把它投影到基準面上。由于地面上每升高1m，重力值大約減小3.086 g.u.。給出比總基點所在水準面高出h1和低了h2的兩個測點上的布格校正公式。(3)畫出下列各種情況下的g曲線g+0- 1 1 1 0 0 10 10 1=0 5. 磁法勘探的應(yīng)用前提是（ ） A密度差異 B磁性差異 C電性差異 .